設備名稱：高分辨場發射透射電子顯微鏡 High Resolution Field Emission Transmission Electron Microscope，HRTEM
設備編號：16003997
型號：JEM-2100F
廠家：日本電子
放置地點：清華大學理科樓D119房間

收費項目名稱
1、自主上機機時費 校外：800元/小時、校內：600元/小時
2、送樣測試費 校外：800元/小時、校內：600元/小時

1.點分辨率：0.19nm
2.線分辨率：0.14nm
3.加速電壓：80, 100, 120, 160, 200kV
4.傾斜角：25度
5.STEM分辨率：0.20nm

具備明場像、暗場像、衍射像和 STEM像，配備了牛津能譜儀，可以對樣品進行點、線、面的能譜分析。配備等離子清洗儀可以有效改善樣品積碳問題。配備Gatan 626 單傾冷凍傳輸桿系統，可以對不耐輻照樣品進行一定量改善。

JEM-2100F 應用廣泛，從材料科學、生命科學、醫療、制藥、半導體到納米技術。利用200kV場發射透射電鏡JEM-2100F，不僅可實現超高分辨率圖像的觀察，同時，還可以得到納米尺度的結構、成分等信息。高亮度的場發射電子槍，輕松實現各種分析功能。