設備名稱：冷場發射掃描電子顯微鏡 Cold Field Emission Scanning Electron Microscope, SEM
設備編號：16003996
型號：SU-8010
廠家：日立Hitachi
放置地點：理科樓D120

收費項目名稱
形貌觀察 校外：400元/小時、校內：300元/小時
注：做EDS加收60元/小時。

30KV 分辨率 1.0 nm;1KV 減速模式 分辨率1.3 nm,能譜成分分析范圍：Be-U

本掃描電鏡為日立經典的冷場掃描電子顯微鏡，具有冷場電鏡高分辨率的特點，同時設備具有較高的穩定性，其高壓極限分辨率為1.0 nm，具有出色的低壓性能，低壓加速模式可以達到1.3 nm，非常適合納米材料、高分子材料等要求高分辨及不導電的樣品；Upper探頭可選擇接受二次電子像或背散射電子像；同時配備了大面積高效率電制冷能譜儀，能夠方便的實現材料表面成分的微觀分析。

掃描電鏡主要用于觀察材料表面的微觀形貌、斷口及內部組織，并對材料表面微區成分進行定性和定量分析。常用于陶瓷、高分子、礦物、纖維、生物等無機或有機固體材料表面及斷面形貌觀察、元素分析，金屬材料相分析、成分分析和夾雜物形態鑒定。該儀器可高分辨率觀察樣品表面超微結構，尤其對生物等不導電樣品，無需鍍膜即可實現高保真觀察。