設備名稱:原子力顯微鏡 Atomic Force Microscopy, AFM
設備編號:17002180
型號:Cypher VRS
廠家:牛津儀器
放置地點:生命科學館138
收費項目名稱
常規測試費 校外:400元/小時、校內:300元/小時
注:1 氣體氣氛按使用量另收取費用。
???????2 特殊功能有0-200元的浮動,如液體環境、溫控實驗、電學/磁學測試、高分辨等。
???????3 探針按型號收費,建議自備。
包含了多種分辨率范圍;
儀器最快掃描速度可達到625HZ,最快超過10幅圖/秒;
制冷制熱變溫范圍:0-250℃;
匹配電壓10V;
掃描范圍xy方向30*30μm,z軸方向5μm。
12種模式:
1.接觸模式(contact mode)
2.側向力顯微鏡模式(lateral force mode)
3.視頻級成像模式(Cypher Highest Resolution Fast Scanning)
4.輕敲模式(tapping mode/AC mode)
5.藍光模式(blue drive)
6.導電力顯微鏡模式(conductive AFM/ORCA)
7.壓電力顯微鏡模式(Piezoresponse force Microscope)
8.靜電力顯微鏡模式(Electrostatic Force Microscopy)
9.開爾文探針力顯微鏡(Scanning Kelvin Probe Microscopy)
10.磁力顯微鏡(Magnetic Force Microscopy)
11.掃描隧道顯微鏡(Scanning Tunneling Microscope)
12.納米雕刻/操縱(Nanolithograpy/Nanomanipulation)
又稱多功能單分子力譜儀、掃描探針顯微鏡,該設備配有可控環境封閉樣品臺,能夠實現液體、氣體等多種氛圍的測試環境,樣品臺可變溫度范圍:0-250℃,可實時顯示溫度,氣壓,濕度等環境參數。另配有blueDrive光熱激勵系統,能夠以光熱的方式,直接激勵懸臂,從而產生更加理想的響應。這給所有輕敲模式技術賦予了強大的性能和易操作性,尤其在液體環境中可以實現長時間連續穩定原位成像。可兼容各種模式和配件,多種模式可以對納米材料表面微觀形貌、大小、厚度和粗糙度進行表征,容易實現原子級高分辨成像,可進行表面力學機械性能測量,微納米尺度材料的表面電性能(電勢,電流,I-V曲線,壓電)及磁學性能的表征。
應用于材料科學、聚合物科學、半導體工業、電化學以及生命科學等領域,多種種模式可以對靜電力、表面電荷、表面電勢、壓電信號、磁力等進行快速高效的表征。