設備名稱：X射線光電子能譜儀X-ray photoelectron spectroscopy，XPS
設備編號：待驗收
型號：ESCALABXi+
廠家：ThermoFisher Scientific，英國
放置地點：理科樓D104
收費項目名稱
1、表面分析 校外：800元/樣（5個窄譜內），每增加1個窄譜加收100元、校內：400元/樣（5個窄譜內），每增加1個窄譜加收50元
2、深度分析-Depth Profile 校外：1000元/小時、校內：500元/小時
3、深度分析-分段濺射 校外：1) 濺射費400元/次；2) 濺射后采譜，每采集一次譜等同于樣品表面分析單次收費 、校內：1)濺射費200元/次；2) 濺射后采譜，每采集一次譜等同于樣品表面分析單次收費
4、自主上機 僅限校內 8:00-18:00時段：1600元；18:00-次日8:00：100元/小時，800元封頂
180°球扇形分析器。X射線光電子成像最佳空間分辨率≤1μm；單色化X射線源（Al/Ag陽極），AlKα最佳能量分辨率≤0.43eV，最佳空間分辨率≤20μm；氬（團簇和單粒子）離子源，加熱冷卻樣品臺。
X射線光電子能譜（XPS）是利用光電效應原理，采樣深度<10nm 的表面分析技術。該儀器是國家電子能譜中心的核心設備，配置了化學領域需要的表面原位反應和檢測所需要的全部必備附件，包括：紫外光電子能譜（UPS）、反光電子能譜（IPES）、反射電子能量損失譜（REELS）、離子散射譜（ISS），可對各類固體材料的表面原子層進行表界面元素及化學態分析，實現能帶、價帶、費米能級、導帶、功函數等電子結構的測量。同時，配合準原位反應室和殘余氣體分析器（RGA），對催化劑、器件等新材料樣品進行光輻照（氙燈光源）、溫度（170K-900K）、氣氛（四路氣體）、真空負壓、電磁場、等離子體（變頻）等環境下的反應處理，原位表征從樣品制備-中間態產物反應-表面化學分析等不同過程中的表面化學信息。
