清華大學分析中心將于下周五（2021年5月14日）下午13:30進行飛行時間二次離子質譜分析技術（TOF-SIMS）講座：探針式膜厚測量儀（臺階儀）介紹及使用。請大家用E-mail進行預約參加。請大家將姓名、學號、導師、單位，以郵件標題“參加飛行時間二次離子質譜分析技術（TOF-SIMS）講座-Ⅲ---探針式膜厚測量儀（臺階儀）介紹及使用”發送郵件至李芹老師（liqincup@mail.tsinghua.edu.cn）或郭沖老師（guochong1992@163.com），以回復的郵件為參加依據。

報告人：李展平

時間：2021年5月14日周五下午13:30-15:30

地點：分析中心會議室（理科樓D-203）

報告題目：探針式膜厚測量儀（臺階儀）介紹及使用

歡迎大家參加！

聯系人：李芹（liqincup@mail.tsinghua.edu.cn）

郭沖（guochong1992@163.com）

清華大學分析中心飛行時間二次離子質譜分析平臺

2021年5月7日