為幫助同學們更好的理解和應用飛行時間二次離子質譜（TOF-SIMS）技術，分析中心于2022年9月14日和29日分別舉辦了“飛行時間二次離子質譜分析技術及其應用”講座和操作培訓。

李展平高工就TOF-SIMS技術的基本原理、主要功能和應用做了詳細講解，結合項目案例介紹了TOF-SIMS技術在各學術研究領域的最新應用和研究進展。會議采用線上和線下相結合的方式，119人參加了講座并進行了充分的交流和探討。

郭沖工程師從分析測試的制樣方法、進出樣操作方法、數據處理軟件使用方法、儀器使用注意事項等方面進行了細致的介紹，并演示了具體的操作過程。同時，向參加培訓的學生并分享了測試經驗，大家紛紛表示收獲滿滿。

“飛行時間二次離子質譜分析技術及其應用”講座和操作培訓受到師生廣泛好評，大家對飛行時間二次離子質譜的原理、特點和應用有了更深入的認識，自主操作能力也得到進一步提高。本次技術培訓為中心今后逐步加強儀器設備的開放力度、加大大型儀器設備深度共享奠定了良好的基礎。